Пробник логического анализатора предназначен для приема входных логических сигналов по 16 каналам в осциллограф Актаком ADS-2182 или Актаком ADS-2282, при работе прибора в режиме логического анализатора.
Щуп осциллографический: до 500 МГц, до 600 В. Вх. сопр. 10 МОм/12 пФ. Коэфф. деления 1х10. Длина кабеля 1,2 м. Вес 90 г BNC с пином считывания коэффициента деления
Щуп осциллографический: до 350 МГц, до 600 В. Вх. сопр. 10 МОм/16 пФ. Коэфф. деления 1х10. Длина кабеля 1,2 м. Вес 90 г BNC с пином считывания коэффициента деления
Щуп осциллографический: до 250 МГц, до 1500 В. Вх. сопр. 100 МОм/5,5 пФ. Коэфф. деления 1х100. Длина кабеля 1,3 м. Вес 93 г BNC с пином считывания коэффициента деления
Современная электрофизика полупроводников немыслима без измерения вольт-фарадных характеристик (ВФХ), или т.н. CV-метрии, что подразумевает измерение емкости как функции от приложенного постоянного напряжения смещения. Именно эти измерения дают возможность быстрого определения базовых параметров слоев полупроводников и диэлектриков, которые затруднительно измерить прямыми методами. Все статьи
АТТ-2590 объединяет 2 принципиально различных измерителя температуры: бесконтактный инфракрасный датчик + контактная термопара К-типа. Это удобный инструмент для бесконтактного и контактного измерения температуры поверхностей объектов.
На наш склад поступили многофункциональные цифровые осциллографы Актаком серии ADS-6000 с разрешением АЦП 8 и 12/14 бит; переносные осциллографы с глубиной записи 10 миллионов точек ADS-2061M/MV, ADS-2111M; а также ультракомпактные осциллографы экономного класса ADS-2031.
Более полную информацию о поступлении читайте в новости.
Информируем о новом специальном предложении на высокочастотные генераторы сигналов Актаком.
До 30 сентября 2017 года с нашего склада можно приобрести ВЧ генераторы с максимальной частотой генерации 450 МГц (ADG-4401) и 350 МГц (ADG-4351) по выгодным ценам со скидкой 20% и 25% соответственно.
Читайте подробнее о специальном предложении. Все новости
Современная электрофизика полупроводников немыслима без измерения вольт-фарадных характеристик (ВФХ), или т.н. CV-метрии, что подразумевает измерение емкости как функции от приложенного постоянного напряжения смещения. Именно эти измерения дают возможность быстрого определения базовых параметров слоев полупроводников и диэлектриков, которые затруднительно измерить прямыми методами.
