EN
Поиск по сайту
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Подписка
Реклама
Журнал "Контрольно-измерительные приборы и системы"

Измерение вольт-фарадных характеристик полупроводниковых приборов — выбор современного бюджетного решения

Современная электрофизика полупроводников немыслима без измерения вольт-фарадных характеристик (ВФХ), или т.н. CV-метрии, что подразумевает измерение емкости как функции от приложенного постоянного напряжения смещения. Именно эти измерения дают возможность быстрого определения базовых параметров слоев полупроводников и диэлектриков, которые затруднительно измерить прямыми методами.

Читать статью в PDF:  Читать
Подробнее о приборе:  АМ-3026 Измеритель RLCАММ-3068 Анализатор компонентовАММ-3078 Анализатор компонентовАММ-3088 Анализатор компонентов

Возврат к списку


Материалы по теме:


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Журнал "Контрольно-измерительные приборы и системы"
© АКТАКОМ, 2000-2018. E-mail: aktakom.mail@aktakom.ru Политика конфиденциальности
Рейтинг@Mail.ru Яндекс.Метрика