Измерители RLC
|
|
Выбор по параметрам
18.09.2026
Вступило в действие специальное предложение на портативные измерители RLC Актаком АМ-3123 (10 кГц) и АМ-3125 (100 кГц). До 31 декабря 2026 года данные позиции можно приобрести со скидкой 20% от розничной цены. Приборы в Госреестре СИ до 2029 года.
15.09.2026
Доступны к поставке с короткими сроками двух- и четырехканальные модели цифровых осциллографов Актаком серии ADS-6000, которые могут использоваться в сфере метрологического контроля и надзора. Список моделей в новости.
08.09.2026
Программируемые электронные нагрузки Актаком постоянного тока малой мощности от 200 до 600 Вт стали дешевле. Приборы включены в Государственный реестр средств измерений за номером 92194-24.
01.09.2026
До 01 октября 2026 года на большинство моделей промышленных столов Актаком со стандарной и антистатической ESD столешницей большинства модификаций предоставляется скидка 15% от розничной цены!
31.08.2026
Снижены цены на большинство популярных моделей цифровых осциллографов Актаком экономного класса серии ADS-2000. Модельный ряд приборов данной серии представлен 11 моделями с полосами пропускания от 30 до 300 МГц. Большая часть осциллографов серии ADS-2000 включена в Государственный реестр СИ РФ.
Все новости
|
|
Поделиться:
|
В статье рассказывается о том, как правильно сформировать рабочее место, руководствуясь не только соображениями эргономики и планирования рабочего пространства, но и необходимостью использования различных приборов и оборудования.
В статье описывается новый измеритель RLC АКТАКОМ АМ-3128,
приводится таблица сравнения с другими ручными измерителями иммитанса
производства АКТАКОМ разных ценовых сегментов, рассматриваются
дополнительные функции и опции прибора АМ-3128. Статья предназначена для
инженерного персонала производственных предприятий и широкого круга
радиолюбителей.
В данной статье описывается применение режима многоточечных измерений
(свипирование автоматическое по диапазону или с произвольно
устанавливаемым шагом) в анализаторах компонентов АКТАКОМ АММ-30х8,
который расширяет возможности прибора, в том числе при исследовании
полупроводниковых структур, повышает достоверность результатов и снижает
время проведение измерений.
Все статьи
|
