Измерители RLC
|
|
Выбор по параметрам
13.10.2025
На 12% снижены розничные цены на все разновидности промышленных столов Актаком с антистатической ESD столешницей
06.10.2025
Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 27 марта 2025 г. № 614 (п.12 Приложения к приказу) утвержден тип СИ на осциллографы-мультиметры цифровые серии ADS-2000.
Номер в Госреестре СИ 95003-25.
Срок действия до 27.03.2030.
01.09.2025
Успейте воспользоваться выгодным предложением!
До 18 октября 2025 года продолжает действовать 20% скидка на широкий ассортимент промышленной мебели Актаком.
11.07.2025
Миллиомметр Актаком АММ-6001 предназначен для измерения малых значений активного сопротивления в диапазоне от 0,001 мОм до 300 кОм. Для обеспечения высокой точности измерения и компенсации падения напряжения в измерительных проводах в приборе используется 4-проводная схема измерения с помощью зажимов Кельвина. Батарейное питание, а также небольшие размеры позволяют использовать этот прибор в "полевых" условиях.
02.07.2025
Информируем о доступности поставки с короткими сроками широкого ассортимента профессиональных паяльных станций Актаком различного функционального назначения.
Все новости
|
|
Поделиться:
|
В статье рассказывается о том, как правильно сформировать рабочее место, руководствуясь не только соображениями эргономики и планирования рабочего пространства, но и необходимостью использования различных приборов и оборудования.
В статье описывается новый измеритель RLC АКТАКОМ АМ-3128,
приводится таблица сравнения с другими ручными измерителями иммитанса
производства АКТАКОМ разных ценовых сегментов, рассматриваются
дополнительные функции и опции прибора АМ-3128. Статья предназначена для
инженерного персонала производственных предприятий и широкого круга
радиолюбителей.
В данной статье описывается применение режима многоточечных измерений
(свипирование автоматическое по диапазону или с произвольно
устанавливаемым шагом) в анализаторах компонентов АКТАКОМ АММ-30х8,
который расширяет возможности прибора, в том числе при исследовании
полупроводниковых структур, повышает достоверность результатов и снижает
время проведение измерений.
Все статьи
|
