Измерение вольт-фарадных характеристик полупроводниковых приборов — выбор современного бюджетного решения

Современная электрофизика полупроводников немыслима без измерения вольт-фарадных характеристик (ВФХ), или т.н. CV-метрии, что подразумевает измерение емкости как функции от приложенного постоянного напряжения смещения. Именно эти измерения дают возможность быстрого определения базовых параметров слоев полупроводников и диэлектриков, которые затруднительно измерить прямыми методами.

Читать

Загрузить

Подробнее о приборе:

Возврат к списку

Материалы по теме:

Новости АКТАКОМ

Статьи о продукции АКТАКОМ

При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.